发明名称 垂直沟道场效应晶体管及制备方法
摘要 本发明涉及一种多晶硅作源端的具有垂直沟道结构的场效应晶体管,及它的制备方法。本发明的垂直沟道场效应晶体管,其特征在于用多晶硅作器件的源端。有效的节省了有源区的面积,更好的控制了器件的沟道长度,工艺中降低了硅台刻蚀的高度,避免了多晶硅刻蚀过程中因硅台高度高而可能出现的断裂,降低了工艺难度。并且采用多晶硅作源端,可以很容易和双极器件集成,为实现BiCMOS提供了一个很好的途径。可作为半导体器件广泛应用于集成电路技术领域。
申请公布号 CN1399349A 申请公布日期 2003.02.26
申请号 CN02129384.8 申请日期 2002.09.09
申请人 北京大学 发明人 刘金华;刘文安;黄如;张兴
分类号 H01L29/772;H01L21/335 主分类号 H01L29/772
代理机构 北京华一君联专利事务所 代理人 余长江
主权项 1、一种垂直沟道场效应晶体管,其特征在于用多晶硅作器件的源端。
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