发明名称 | 垂直沟道场效应晶体管及制备方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种多晶硅作源端的具有垂直沟道结构的场效应晶体管,及它的制备方法。本发明的垂直沟道场效应晶体管,其特征在于用多晶硅作器件的源端。有效的节省了有源区的面积,更好的控制了器件的沟道长度,工艺中降低了硅台刻蚀的高度,避免了多晶硅刻蚀过程中因硅台高度高而可能出现的断裂,降低了工艺难度。并且采用多晶硅作源端,可以很容易和双极器件集成,为实现BiCMOS提供了一个很好的途径。可作为半导体器件广泛应用于集成电路技术领域。 | ||
申请公布号 | CN1399349A | 申请公布日期 | 2003.02.26 |
申请号 | CN02129384.8 | 申请日期 | 2002.09.09 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 刘金华;刘文安;黄如;张兴 |
分类号 | H01L29/772;H01L21/335 | 主分类号 | H01L29/772 |
代理机构 | 北京华一君联专利事务所 | 代理人 | 余长江 |
主权项 | 1、一种垂直沟道场效应晶体管,其特征在于用多晶硅作器件的源端。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区颐和园路5号 |