发明名称 | 仿真系统中使用的具有集成调试功能的可重构集成电路 | ||
摘要 | 一种集成电路,包括多个逻辑元件(LE)和一个部分扫描寄存器,每个逻辑元件具有多个输出。使多个LE工作通过根据相应地加给LE的多个输入信号产生多个输出信号。部分扫描寄存器可被重构连接到所选的几个LE,这样,当被启动时,部分扫描寄存器可工作以在扫描总线上捕捉和输出在工作时钟的一个特定时钟周期内由所选LE仿真的电路元件的信号状态值的记录,其中部分扫描寄存器通过利用与工作时钟成适当比例的扫描时钟而被启动。 | ||
申请公布号 | CN1399724A | 申请公布日期 | 2003.02.26 |
申请号 | CN00816276.X | 申请日期 | 2000.02.07 |
申请人 | 明导公司 | 发明人 | F·雷布勒夫斯基;O·勒帕佩 |
分类号 | G01R31/3185;G06F11/26 | 主分类号 | G01R31/3185 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王岳;张志醒 |
主权项 | 1.一种用在仿真系统中的集成电路,包括:多个逻辑元件(LE),可重构用以仿真集成电路设计的电路元件,每个元件具有多个输出,其中LE工作后根据相应地加到LE上的多个输入信号产生多个输出信号;以及部分扫描寄存器,动态连接至多个LE中所选的一部分,这样,当其被启动时,扫描寄存器可工作以在扫描总线上捕捉和输出在工作时钟的一个特定时钟周期内由所选LE仿真的电路元件的信号状态值的记录。 | ||
地址 | 美国俄勒冈州 |