Verfahren und Vorrichtung zum Speichern von Speichertestinformantion

摘要

Verfahren und Vorrichtungen zum Speichern von Speichertestinformation sind präsentiert. Das Verfahren enthält die Schritte zum Speichern eines Teils von Information in Bezug auf Stellen und Anzahlen von fehlerhaften Speicherzellen, die während eines Testens des Speichers erfasst werden, und zum Aktualisieren der gespeicherten Information, wenn fehlerhafte Speicherzellen erfasst werden, um einen ersten Typ von Speicherreserve anzuzeigen, der einem Reparieren einer fehlerhaften Speicherzelle zuzuordnen ist, einen zweiten komplementären Typ von Speicherreserve, der einem Reparieren der fehlerhaften Speicherzelle zuzuordnen ist, oder dass der Speicher nicht reparierbar ist. Der erste Typ von Speicherreserve entspricht einem eines Zeilen- und eines Spaltenteils von Speicher und der zweite komplementäre Typ von Speicherreserve entspricht dem anderen der Zeilen- und Spaltenteile von Speicher.