发明名称 | 光学相干层析X射线摄影法角膜测绘设备 | ||
摘要 | 光学相干层析X射线摄影法(″OCT″)角膜测绘仪包含:(a)由改变参考光路装置构成的OCT装置;(b)对0CT装置的取样光进行光栅扫描的光栅扫描器;(c)用于将该扫描器的取样光传输到眼睛和将从眼底反射的取样光通过扫描器传输到OCT装置的曲面镜;以及(d)耦合到扫描器、改变装置、以及OCT装置的参考和取样干涉输出的分析器,用于从光栅点处的参考和取样干涉输出确定角膜图样。 | ||
申请公布号 | CN1395902A | 申请公布日期 | 2003.02.12 |
申请号 | CN02102862.1 | 申请日期 | 1995.10.05 |
申请人 | 卡尔蔡斯公司 | 发明人 | T·赫尔穆思;J·魏 |
分类号 | A61B3/107 | 主分类号 | A61B3/107 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒 |
主权项 | 1.一种光学相干层析X射线摄影法角膜测绘设备,它包括:由改变参考光束路径长度装置组成的光学相干层析X射线摄影装置;用于对来自光学相干层析X射线摄影装置的取样光学输出进行光栅扫描并将从眼后反射出的取样光学输出传输到光学相干层析X射线摄影装置的光栅扫描装置;以及耦合到光栅扫描装置、改变装置、和来自光学相干层析X射线摄影装置的参考和取样干涉输出的分析装置,用于使:光栅扫描装置将取样光学输出移到光栅中的点上;改变装置在每一个点处预定数量上改变参考光束路径的长度;改变装置响应从一个或多个点获得的参考和取样干涉输出改变参考光束路径的长度;以及从光栅中点处的参考和取样干涉输出确定角膜图样。 | ||
地址 | 联邦德国海登海姆(布伦茨) |