| 发明名称 | 电路基板的检查装置及检查方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种能快速检查电路基板的检查装置及检查方法。作为被检查对象的LCD驱动模块(100)，载置有LCD驱动用的LSI(110)，电路布线(111)连接于SEG端子，电路布线(112)连接于LSI(110)的COM端子。检查装置1向LSI(110)的输入端子(113)中输出LSI驱动信号。传感器(2、3)以非接触方式分别配置在与电路布线(111、112)相对向的位置上，通过驱动LSI(110)，检测电路布线(111、112)上所产生的电位变化，用检查装置(1)分析该检测信号。 | ||
| 申请公布号 | CN1395688A | 申请公布日期 | 2003.02.05 |
| 申请号 | CN01803772.0 | 申请日期 | 2001.11.15 |
| 申请人 | OHT株式会社 | 发明人 | 山冈秀嗣;石冈圣悟 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R31/304;G01R1/02 | 主分类号 | G01R31/28 |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戈泊;程伟 |
| 主权项 | 1.一种检查装置，组装有集成电路的电路基板的检查装置，其特征在于：包括：驱动机构，驱动所述集成电路，以便由所述集成电路的多个输出端子依序输出信号；检测机构，以非接触方式检测出连接于所述输出端子的多个电路布线的电压变化；比较机构，将所述电压变化的大小与给定值相比较；异常检测机构，根据所述比较机构的比较结果，检测所述电路布线的异常。 | ||
| 地址 | 日本广岛 | ||