发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST STRUCTURE AND METHOD FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 <p>Auf einem elektrisch aktiven Bereich ist ein Isolationsbereich aus einem Dielektrikum aufgebracht und darauf ein elektrisch leitfähiger Bereich, der an eine elektrisch leitfähige Zuleitung angeschlossen ist. Benachbart zu der elektrisch leitfähigen Zuleitung ist eine Hilfs-Leiterbahn angeordnet, welche mit einem Bereich mit mindestens mit Dotieratomen eines ersten Leitfähigkeitstyp hoch dotiert ist, verbunden ist.</p>
申请公布号 WO2003005410(A2) 申请公布日期 2003.01.16
申请号 DE2002002179 申请日期 2002.06.14
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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