发明名称 Apparatus for testing chip of image sensor
摘要 <p>1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술 분야 이미지센서 칩 테스트 장치 2. 발명이 해결하고자 하는 기술적 요지 본 고안은 별도의 지그를 이용하여 칩을 실장하므로서 신속하게 테스트할 수 있는 이미지센서 칩 테스트장치를 제공함에 그 목적이 있다. 3. 발명의 해결 방법의 요지 본 발명은 바닥면에 지지되는 베이스 본체; 상기 베이스 본체의 상면에 소정 간격을 두고 설치되며, 내면에 크기가 다른 지지홈과 지지홀이 형성된 전면 베이스; 상기 전면베이스에 내장되며, 외부의 모니터에 이미지 영상신호를 전송하는 메인보드; 상기 전면베이스의 일측 지지홀에 삽입되어 메인보드와 전기적으로 연결되며, 그 내부에 이미지 센서 칩이 끼워져 접속되는 소켓 어셈블리; 및 상기 소켓 어셈블리의 대향부에 위치되어 이미지 센서 칩의 이미지 영상을 조사하는 렌즈뭉치을 포함하는 이미지센서 칩 테스트장치를 제공한다. 4. 발명의 중요한 용도 지그에 렌즈뭉치가 유동없이 고정됨으로써 피사체인 타켓 보드에 위치를 정확히 맞추어 신뢰성있는 테스트를 수행할 수 있는 것임.</p>
申请公布号 KR100365761(B1) 申请公布日期 2002.12.26
申请号 KR19990024816 申请日期 1999.06.28
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 허옥;강상훈
分类号 H01L31/00;H01L27/14 主分类号 H01L31/00
代理机构 代理人
主权项
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