发明名称 用以于使用闭合回路回授系统之微处理器中功率调节之方法及装置
摘要 一种用于微处理器中功率调节的方法及装置。一电压源供应电压至微处理器,且一时脉源以意欲的频率操作微处理器。在一具体实例中,一电源监视器被组态以测量微处理器的短期间功率消耗。在另一具体实例中,一温度感测器测量该微处理器的温度。控制逻辑耦合到该电压源及时脉源。该控制逻辑接收电源消耗或温度的指示,如可适用的话,并将之与预定值做比较。回应于该比较,该控制逻辑变动该供应电压及频率。
申请公布号 TW514772 申请公布日期 2002.12.21
申请号 TW088118902 申请日期 1999.10.30
申请人 英特尔公司 发明人 克里斯S.布朗宁;歇柯哈Y.玻卡耳;葛瑞歌利E.德默
分类号 G06F1/00;G05D23/00 主分类号 G06F1/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种方法,包含以下步骤: 施加一供应电压及时脉至一微处理器; 监视该微处理器的功率消耗; 决定是否该功率消耗在预定値的范围内;以及 回应该决定而变动该供应电压及时脉频率,而该决 定是由与该微处理器位于相同晶粒上之控制逻辑 执行。2.如申请专利范围第1项的方法,其中该监视 步骤包含监视微处理器的短期间的功率消耗。3. 如申请专利范围第1项的方法,其中该监视步骤包 含监视电阻的电压。4.如申请专利范围第1项的方 法,其中该决定步骤包含决定是否已监视到的功率 消耗接近或超过一上限;以及 其中该变动步骤包含:减少该时脉的供应电压及频 率,以回应该已监视到的接近或超过该上限的功率 消耗。5.如申请专利范围第1项的方法,其中该决定 步骤包含决定是否已监视到的功率消耗接近或超 过一上限;以及 其中该变动步骤包含增加该时脉的供应电压及频 率,以回应该已监视到的接近或超过该上限的功率 消耗。6.一种方法,包含以下步骤: 施加一供应电压及时脉至一微处理器; 监视该微处理器的功率消耗,而该监视步骤是由与 该微处器位于相同晶粒上之监视器执行,其中该监 视步骤包含监视一电阻之电压; 将该监视到的功率消耗与一预定値相比较;以及 变动该时脉的供应电压及频率,以便回应该消耗。 7.如申请专利范围第6项的方法,其中该监视步骤包 含监视该微处理器的短期功率消耗。8.如申请专 利范围第6项的方法,其中该变动步骤包含变动该 时脉的供应电压及频率,以回应该被监视到的接近 或超过该预定値的功率消耗。9.一种装置,其包含: 一微处理器; 一电压源,其供应一电压给该微处理器; 一时脉源,其供应一频率给该微处理器; 一电源监视器,用以监视该微处理器的功率消耗; 以及 控制逻辑,与该微处理器位于相同晶粒上用以决定 该被监视到的功率消耗在预定値范围内,并回应于 该决定而变动该供应电压及频率。10.如申请专利 范围第9项的装置,其中该电源监视器监视该微处 理器的短期功率消耗。11.如申请专利范围第9项的 装置,其中该电源监视器监视位于该电压源及微处 理器间之电阻的电压。12.如申请专利范围第9项的 装置,其中控制逻辑还可回应于一被监视到的功率 消耗接近或超过上限値而决定是否该被监视到的 功率消耗接近或超过该上限値,以降低供应电压及 频率。13.如申请专利范围第9项的装置,其中该控 制逻辑还可回应于该被监视到的功率消耗接近于 或超过一下限値而决定是否该被监视到的功率消 耗接近或超过该下限値并增加该供应电压及频率 。14.如申请专利范围第9项的装置,其中该时脉源, 电源监视器,以及控制逻辑都是该微处理器的一整 合部份。15.如申请专利范围第9项的装置,其中时 脉包含一锁相回路。16.如申请专利范围第9项的装 置,其中电压源包含一交换式电源稳压器。17.一种 装置,其包含: 一微处理器; 一电压源,用以供应电压给该微处理器; 一时脉源,用以供应一时脉给该微处理器; 一功率监视器,与该微处理器位于相同晶粒上并藉 由监视该电压源及该微处理器间之电阻的电压而 监视该微处理器的功率消耗;以及 控制逻辑,用以将该被监视到的功率消耗与一预定 値相比较,并回应于该比较而变动该供应电压及频 率。18.如申请专利范围第17项的装置,其中该电源 监视器监视该微处理器的短期功率消耗。19.如申 请专利范围第17项的装置,其中该控制逻辑变动该 时脉的供应电压及频率,以回应该被监视到的接近 或超过该预定値的功率消耗。20.如申请专利范围 第19项的装置,其中时脉源、电源监视器及控制逻 辑都是微处理器的一整合部份。21.如申请专利范 围第17项的装置,其中时脉源包含一锁相回路。22. 如申请专利范围第17项的装置,其中电压源包含一 交换式电源稳压器。23.一种装置,包含: 一微处理器; 一电压源,用以施加一供应电压至该微处理器; 一时脉源,用以施加一时脉至该微处理器; 一温度感测器,用以量测该微处理器的温度;以及 控制逻辑,与该微处理器位于相同晶粒上用以决定 是否该测得的温度接近一预定値范围的下限或上 限并变动该时脉的供应电压及频率,以回应该决定 。24.如申请专利范围第23项之装置,其中该控制逻 辑决定是否该测得的温度接近或超过该上限并减 少该时脉的供应电压及频率,以回应该接近或超过 该上限的测得温度。25.如申请专利范围第23项之 装置,其中该控制逻辑用以决定是否该测得的温度 接近或超过该下限并增加该时脉的供应电压及频 率,以回应该接近或超过该下限之测得温度。26.如 申请专利范围第23项之装置,其中时脉源包含一锁 相回路。27.如申请专利范围第23项之装置,其中电 压源包含一交换式电源稳压器。28.如申请专利范 围第23项之装置,其中该温度感测器用以量测供该 微处理器用之晶粒。29.如申请专利范围第23项之 装置,其中该温度感测器用以量测供该微处理器用 之封装外壳。图式简单说明: 图1为根据本发明一具体实例的功率调节闭回路回 授系统的方块图,其中功率消耗为该闭回路回授系 统中的测量变数; 图2为根据本发明另一具体实例的功率调节闭回路 回授系统的方块图,其中温度为该闭回路回授系统 中的测量变数; 图3为根据本发明再另一具体实例的功率调节闭回 路回授系统的方块图,其中系统的不同元件与微处 理器整合在一起; 图4显示图3中所说明的功率调节闭回路回授系统 的替代具体实例; 图5显示根据本发明一具体实例做功率调节的过程 ,其可由图1-4的控制逻辑来执行; 图6显示根据本发明特定具体实例做功率调节的过 程,其中温度是该闭回路回授系统中的测量变数; 以及 图7显示根据本发明另一特定具体实例做功率调节 的过程,其中,短期间的功率消秏为该闭回路回授 系统中的测量变数。
地址 美国
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