| 发明名称 | 线性互补金属氧化物半导体感测器的黑度校正装置与方法 | ||
| 摘要 | 一种线性互补金属氧化物半导体感测器的黑度校正(darkcalibration)装置,至少包括多个曝光控制元件,每个曝光控制元件用来控制至一感光胞的一第一电信通路,并位于相对应感光胞及一共同(incommon)电压线之间。而一具有线性感测器的扫描器黑度校正的方法,该方法至少包含使多个电信连接不能作用,此些电信连接位于线性感测器中的一共同电压线与电信连接相对应的感光胞之间,然后曝光感光胞即可得到黑度校正所需的参考数据。 | ||
| 申请公布号 | CN1384659A | 申请公布日期 | 2002.12.11 |
| 申请号 | CN01116121.3 | 申请日期 | 2001.05.09 |
| 申请人 | 力捷电脑股份有限公司 | 发明人 | 李镇河 |
| 分类号 | H04N1/40;H04N1/028;H04N5/335 | 主分类号 | H04N1/40 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李强 |
| 主权项 | 1、一种线性互补金属氧化物半导体感测器的黑度校正的装置，其特征在于：至少包括：多个曝光控制元件，每个该曝光控制元件用来控制至一感光胞的一第一电信通路，并位于该相对应感光胞及一共同电压线之间。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹科学工业园区 | ||