发明名称 | 检查装置及检查方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种在将检查信号供给到电路配线时,不需要与该电路配线接触的端子,而连无法以肉眼辨识的微细缺陷也会检测出的检查装置及检查方法。用来检查电路基板100的电路配线的检查装置A,是由:配置在电路基板100的其中一面而被供给检查信号的导电构件1、将检查信号供给到导电构件1的信号源2、具有面向导电构件1而被配置在电路基板100另一面的多个单元3a的感测单元3、以及通过将检查信号供给到导电构件1,而取得在各单元3a所出现信号的计算机5所构成。 | ||
申请公布号 | CN1380980A | 申请公布日期 | 2002.11.20 |
申请号 | CN01801478.X | 申请日期 | 2001.06.13 |
申请人 | OHT株式会社 | 发明人 | 石冈圣悟;山冈秀嗣 |
分类号 | G01R31/02;G01R31/28;H01L21/66;H05K3/00 | 主分类号 | G01R31/02 |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戈泊;王刚 |
主权项 | 1.一种检查装置,其主要是针对一用来检查电路基板电路配线的检查装置,其特征在于:备有:被配置在上述电路基板其中一面,而被供给有检查信号的导电构件;将检查信号供给到上述导电构件的手段;面向上述导电构件,被配置在上述电路基板另一面的多个单元及;通过将上述检查信号供给到上述导电构件,而取得在上述各单元所出现的信号的手段。 | ||
地址 | 日本广岛县深安郡 |