发明名称 Halbleiterelement
摘要 In einem Halbleitersubstrat (100) sind Halbleitergebiete (1, 2, 3 und 5), die zu einem IGBT gehören, in einem IGBT-Gebiet (20) ausgebildet und Halbleitergebiete (1 und 4), die zu einer Diode gehören, in einem Dioden-Gebiet (21) ausgebildet. Der IGBT und die Diode sind antiparallel miteinander verbunden. Ein Graben (15), in dem ein Isolator (16) eingegraben ist, ist zwischen dem IGBT-Gebiet (20) und dem Dioden-Gebiet (21) ausgebildet. Der Isolator (16) begrenzt einen umgekehrten Verzögerungsstrom, der von dem Dioden-Gebiet (21) in das IGBT-Gebiet (20) fließt. Auf diese Weise werden die Halbleitergebiete des IGBT und der Diode, die antiparallel miteinander verbunden sind, aus einem einzigen Halbleitersubstrat hergestellt, wodurch die Chipgröße verringert ist.
申请公布号 DE10160118(A1) 申请公布日期 2002.10.31
申请号 DE2001160118 申请日期 2001.12.07
申请人 MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 MAJUMDAR, GOURAB;HATAE, SHINJI;YAMAMOTO, AKIHISA
分类号 H01L29/78;H01L21/76;H01L27/04;H01L29/739 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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