测试嵌入式模拟/混合信号磁心的方法和结构

摘要

测试具有微处理器磁心和存储器磁心的集成电路芯片中的嵌入式模拟磁心的一种方法。其包括下列步骤:在微处理器磁心和将被测试的模拟磁心之间的集成电路芯片上提供一个测试寄存器,测试该微处理器磁心和该存储器磁心,使用一在该微处理器磁心上运行的汇编语言测试程序,以由该微处理器磁心产生一测试模式,通过该微处理器磁心来将该测试模式应用于该模拟磁心,并且由该微处理器磁心或一个外部提供的测试系统来求得模拟磁心的响应值。

主权项

1.一种用来测试其内具有一个微处理器磁心和一个存储器磁心的集成电路芯片上的嵌入式模拟磁心的方法，包括下列步骤：在该微处理器磁心和将被测试的模拟磁心之间的集成电路芯片上提供一测试寄存器；通过多次执行微处理器指令并求得结果来测试该微处理器磁心；使用一在该微处理器磁心上运行的汇编语言测试程序，以由该微处理器磁心来产生一测试模式；由该微处理器磁心将该测试模式应用于该模拟磁心，并且通过该微处理器磁心或一个从该集成电路芯片外部提供的测试系统来求得该模拟磁心的响应值。