| 发明名称 |
Verfahren zur Analyse eines Programms zum Testen elektronischer Bauteile |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE60100007(D1) |
申请公布日期 |
2002.08.22 |
| 申请号 |
DE20016000007 |
申请日期 |
2001.03.14 |
| 申请人 |
BEALACH NO BO FINNE TEO/TA GALAXY, SOUTH DUBLIN |
发明人 |
LEJEUNE, M. PHILIPPE |
| 分类号 |
G01R35/00;G01R31/28;G06F11/00;G06F11/22;G06F11/34;H01L21/66;(IPC1-7):G06F11/36 |
主分类号 |
G01R35/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
