| 主权项 |
1.一种试验片测量方法,其中当一试验片正被移动 可实施测量,包括的步骤: 侦测一试验片基础的光学特性R; 侦测一已经在该试验片上出现之试验线的光学特 性T;及 实施一定量测量或是一定性判断,在该试验片上以 该R与该T之间的差値或比率为基础。2.如申请专利 范围第1项之试验片测量方法,其中可估计该试验 线在该试验片已开始移动之后将出现的时间,或该 试验线将出现的位置,及当该试验线在该估计的时 间点或该估计的位置没有出现时,判断为阴性。3. 如申请专利范围第2项之试验片测量方法,其中 试验片由一试验片夹持器夹持, 该试验片夹持器于试验片移动开始的时间即被侦 测,所测量一段时间T1,系从该试验片移动开始,到 该试验片沿移动的方向之最前端被侦测的时间点, 及以该段时间T1为基准,估计该试验线将出现之后 的一段时间。4.如申请专利范围第1项之试验片测 量方法,其中为识别该试验线,以假设是该试验线 之部份的光学特性,与该试验片基础之光学特性, 其两者之间的差値与起点値相比较,及当该差値大 于该起点値时,该部份可识别为该试验线。5.如申 请专利范围第1项之试验片测量方法,其中有多条 的试验线。6.如申请专利范围第1项之试验片测量 方法,其中该定量测量的结果,于使用校准曲线中, 在单位方面可以转换。7.一种试验片测量方法,其 中当一试验片移动可实施侧量,包括的步骤: 侦测一控制线的光学特性R,其已经在一试验片上 出现; 侦测该试验片基础的光学特性R; 侦测一试验线的光学特性T,其已经在该试验片上 出现;及 实施一定量测量或是一定性判断,其在该试验片上 使用一测定値与一参考値,该测定値以该R与该T之 间的差値或是比率提供,及该参考値以该C与该R之 间的差値或是比率提供。8.如申请专利范围第7项 之试验片测量方法,其中可估计该控制线在该试验 片已开始移动之后将出现的时间,或该控制线将出 现的位置,及当该控制线在该估计的时间点或该估 计的位置没有出现时,判断该试验片是失效抑或检 查错误的。9.如申请专利范围第8项之试验片测量 方法,其中在该控制线已经出现之后,估计该试验 线将出现的时间点,或该试验线将出现的位置,及 当该试验线在该估计的时间点或该估计的位置没 有出现时,判断为阴性。10.如申请专利范围第8项 之试验片测量方法,其中 该试验片由一试验片夹持器夹持, 该试验片夹持器于试验片移动开始的时间即被侦 测,所测量一段时间T1,系从试验片该移动开始,到 该试验片沿移动方向的最前端被侦测的时间点,及 以该段时间T1为基准,估计该控制线将出现之后的 一段时间T2。11.如申请专利范围第10项之试验片测 量方法,其中在该控制线已经出现之后,估计该试 验线将出现的时间点T3,及当该试验线在该估计的 时间点T3没有出现时,判断为阴性。12.如申请专利 范围第7项之试验片测量方法,其中为识别该试验 线,假设该试验线之部份的光学特性,与该试验片 基础之光学特性,其两者之间的差値与起点値相比 较,及当该差値大于该起点値时,该部份可识别为 该试验线。13.如申请专利范围第7项之试验片测量 方法,其中为识别该控制线,假设该控制线之部份 的光学特性,与该试验片基础之光学特性,其两者 之间的差値与起点値比较,及当该差値大于该起点 値时,该部份可识别为该控制线。14.如申请专利范 围第7项之试验片测量方法,其中有多条的控制线 或是多条的试验线。15.如申请专利范围第7项之试 验片测量方法,其中该定量测量的结果,于使用校 准曲线时,在单位方面可以转换。16.一种试验片测 量装置,其中当一试验片正被移动可实施测量,包 括: 一配置为可往复运动之夹持试验片的台子; 闭锁/开锁装置,当该台子移动到最内部时,其能够 锁紧该台子到该试验片测量装置的主体上,及能够 松开此锁紧状态; 倾斜装置,用来有弹性地沿着该台子从该最内部弹 出的方向倾斜该台子;及 阻力施予装置,用来沿着该台子从最内部弹出的方 向,对该台子的动作施予阻力。17.如申请专利范围 第16项之试验片测量装置,其中配置该台子,可自动 地以一均匀的速度行进。18.如申请专利范围第16 项之试验片测量装置,其中配置该闭锁/开锁装置 于该台子被推入时可锁紧该台子,及当该台子再次 推动时,可松开此锁紧状态。19.如申请专利范围第 16项之试验片测量装置,其中 该台子具有一齿条,及 配置该阻力施予装置,以对连接该齿条的齿轮供给 一旋转的阻力。20.如申请专利范围第16项之试验 片测量装置,其中该台子具有一齿条,及配置该倾 斜装置,以旋转地倾斜连接该齿条的齿轮。图式简 单说明: 图1系本发明之试验片测量装置的透视略图; 图2系试验片测量装置之平面图,其中移开一上盖1a 与一紧固的电路板; 图3系试验片测量装置之平面图,其中移开一隔板11 ; 图4系一实施例之透视图,其中一压缩式盘绕的弹 簧14a作为倾斜装置,用以倾斜夹持试验片之台子3; 图5为一透视图,系说明一锁元件3b,其装在夹持试 验片之台子3; 图6A到图6D系说明一锁元件3b与一销13之关系图,其 中图6A说明夹持试验片之台子3正被插入的状态,图 6B说明接合的位置,及图6C与6D则各自说明锁紧状态 被松开之状态; 图7为一平面图,系说明夹持试验片之台子3被推入 到最内部,使得台子3被锁紧之状态; 图8为一剖视图,系沿图7中X-X线说明锁紧的状态; 图9系说明出现在试验片4之符号的位置之图; 图10为一曲线图,系说明当夹持试验片之台子3自动 的行进时,一试验片连续测量的结果(在阳性反应 的情形); 图11A系典型的反射强度资料之曲线图,而图11B系为 图11A中资料的微分所得到之曲线图; 图12为一曲线图,系说明当夹持试验片之台子3自动 地行进时,一试验片连续测量的结果(在阴性反应 的情形); 图13为一曲线图,系说明当夹持一试验片夹持器2之 夹持试验片的台子3自动地行进时,一试验片连续 测量的结果; 图14为一曲线图,系说明当夹持一试验片夹持器2之 夹持试验片的台子3自动地行进时,一试验片连续 测量的结果; 图15为一流程图,系说明由微电脑执行的一试验片 测量方法; 图16为一流程图(连续性),系说明由微电脑执行一 试验片测量方法的情形;及 图17为一曲线图,系说明透过使用本发明之试验片 测量装置与普通使用的另一种测量装置分别地实 施测量所得到之结果。 |
