HIGH-SPEED FAILURE CAPTURE APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC TEST EQUIPMENT

摘要

테스트 대상 메모리로부터 오류 위치 정보를 식별하기 위해 오류 처리 회로에서 사용하기 위한 오류 캡춰 회로가 개시되었다. 오류 캡춰 회로는 복수의 채널로 이루어지고 MUT에 연결되도록 응용된 오류 검출회로를 포함한다. 오류 검출회로는 테스트 신호를 MUT에 인가하고 이로부터의 출력신호를 오류 정보로 처리하도록 동작된다. 오류 메모리 회로 및 고속 링크가 테스트 시간을 최소화하기 위해 제공된다. 고속 링크는 그들사이에 직렬 데이터 전송 성능을 제공하기 위해 오류 메모리 회로를 오류 캡춰 회로에 연결시킨다.