| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft einen Analysechip mit mehreren funktionalen Ebenen für elektrofokussiertes Spotten, der eine Trägerstruktur (0), eine Basisschicht (1), mindestens zwei funktionale Ebenen (2), (4) sowie mindestens zwei Isolierschichten (3), (5) umfasst. Der erfindungsgemässe Analysechip ermöglicht es vorteilhafterweise, Proben unabhängig von ihrer Viskosität mit Hilfe von Elektroden an definierten Punkten des Punktrasters (Arrays) zu fokussieren und zu immobilisieren. Durch die Fokussierfähigkeit erfolgt gleichzeitig eine Erhöhung der lokalen Konzentration der Proben und so eine höhere Spezifität. Während der Analyse selbst besteht die Möglichkeit das Testgut an die einzelnen Positionen des Arrays zu adressieren. So kann potentiell jede untersuchte Information mit der höchst möglichen Sensitivität aufgespürt werden. Die dem Punktraster der Ebene (2) entsprechenden Lochmuster bzw. Ring-Steg-Muster bilden zusammen Kavitäten, an deren Boden sich je eine Sensorfläche der Ebene (2) befindet. Diese Kavitäten schliessen vorteilhafterweise eine Kreuzkontamination durch benachbarte Spots aus.</p> |
