TEST ENVIRONMENT AND A METHOD FOR TESTING ELECTRONIC SYSTEMS

摘要

Die Erfindung betrifft das Testen elektronischer Systeme, wobei eine Testumgebung (1) so gestaltet ist, dass sie Stimuli erzeugt, die in dem zu untersuchenden System (3) eine Reaktion auslösen. Die Testumgebung (1) hat eine Mehrzahl von Testbenchelementen (11, 12, 13), die jeweils über eine Leitung (9) Stimuli ausgeben bzw. Reaktionssignale des Systems (3) empfangen. Die Testbenchelemente (11, 12, 13) weisen jeweils einen Speicher (17) zum Speichern von Testbefehlen und einen Generator (19) zum Generieren der Stimuli oder zum Auswerten des Reaktionssignals auf, wobei der Generator (19) die Test-befehle abarbeitet.