| 主权项 |
1.一种老化测试板,包括基板和从基板延伸出之卡片边缘,该卡片边缘可连接至老化测试试验装置主体;其中老化测试板复设有位于基板上之扩展连接器,可连接至老化测试试验装置主体。2.如申请专利范围第1项之老化测试板,其中,该扩展连接器系设于该卡片边缘后基板上之特定位置,该特定位置为可使卡片边缘之末端插入老化测试试验装置主体,以使得当老化测试板连接到老化测试试验装置主体时,卡片边缘进入导引状态,完成老化测试板相关于老化测试试验装置主体之定位,使得扩展连接器插入老化测试试验装置主体。3.如申请专利范围第1或2项之老化测试板,其中,复设有外壳,此外壳固定于对着正面之背面之基板上,并有扩展连接器固定于此正面,其中电子装置系建构在此外壳中。4.如申请专利范围第3项之老化测试板,其中,老化测试试验装置主体具有第一连接器,用来与卡片边缘接合,和第二连接器,用来与扩展连接器接合。图式简单说明:第1图为显示使用于本发明之信号扩展连接器与固定之老化测试板结构之图示;第2图,包括第2(A)图和第2(B)图,为显示老化测试板与老化测试试验装置主体接合状态之图示;第3图为显示习知之老化测试板之图示;和第4图为显示于第3图之习知之老化测试板与习知之老化测试试验装置主体接合状态之图示。 |
