| 摘要 |
<p>본 발명은, 지문에 광원을 일차 조사하여 취득한 지문영상을 분석하여 영상의 콘트라스트가 표준상태 지문의 표준값보다 낮을 때에는 광원의 광도를 올려서 이차 조사하여 이차 지문영상을 취득하고, 영상의 콘트라스트가 표준값보다 높을 때에는 광원의 광도를 낮추고 이차 조사하여 이차 지문영상을 취득하는 지문인식 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 메모리에는 표준상태의 지문에 대한 표준값이 저장되어 있고, 영상비교부에서는 메모리에 저장된 표준값과 영상처리부에서 처리된 일차 지문영상을 비교하여, 일차 지문영상이 표준상태의 지문영상보다 건조한 상태인지 또는 습한 상태인지를 판단한다. 건조지문의 경우에는 광량을 현재보다 더 증가시키고, 습지문의 경우에는 광량을 감소시켜서 광량을 보정하고, 인증에 직접 사용될 이차 지문영상을 취득하기 위해 이차 광원조사를 하고, 취득된 이차 지문영상을 영상처리하여 통상의 지문인증 프로세스를 행한다.</p> |
