发明名称 资料传送电路
摘要 一种资料传送电路,系具有传送资料之资料线;连接于前述资料线上之介面进出区块,以在前述资料线上进行前述资料之进出;以及连接于前述资料线上之遗漏电流检出/补偿电流发生电路,以在前述资料进出前述资料线之前,检出并记忆在前述资料线上的遗漏电流大小,且于前述资料进出前述资料线时,在前述资料线上流入与前述遗漏电流相抵消之补偿电流。资料线之一例为记忆的位元线,介面进出区块之一例为记忆胞。
申请公布号 TW486632 申请公布日期 2002.05.11
申请号 TW089127636 申请日期 2000.12.22
申请人 东芝股份有限公司 发明人 阿川 谦一;高柳 俊成
分类号 G06F13/38 主分类号 G06F13/38
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种资料传送电路,包括:一资料线,该资料线传送一资料,且该资料线包括一列或复数列;一介面进出区块,该介面进出区块连接于该资料线上,该介面进出区块在该资料线上进行该资料之进出;以及一遗漏电流检出/补偿电流发生电路,该遗漏电流检出/补偿电流发生电路连接于该资料线上,该遗漏电流检出/补偿电流发生电路在该资料进出该资料线之前,检出并记忆在该资料线上的一遗漏电流大小,且于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之一补偿电流。2.如申请专利范围第1项所述之资料传送电路,其中该遗漏电流检出/补偿电流发生电路包括:一遗漏电流检出电路,该遗漏电流检出电路连接于该资料线上,该遗漏电流检出电路在该资料进出该资料线之前检出在该资料线上的该遗漏电流大小;一遗漏电流记忆元件,该遗漏电流记忆元件记忆该资料线上所检出的该遗漏电流大小;以及一补偿电流发生电路,该补偿电流发生电路利用所记忆之该遗漏电流大小为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流。3.如申请专利范围第2项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之该遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为累积与所检出之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流的电路。4.如申请专利范围第2项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之该遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为转换传递所检出之该资料线之电位,及累积与所传递之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流的电路。5.如申请专利范围第1项所述之资料传送电路,其中该遗漏电流检出/补偿电流发生电路包括:一第一P型通道金氧半导体电晶体,该第一P型通道金氧半导体电晶体之闸极与汲极连接于该资料线上;一第二P型通道金氧半导体电晶体,该第二P型通道金氧半导体电晶体之汲极连接于该资料线上;一第三金氧半导体电晶体,该第三金氧半导体电晶体连接于一电源电位节点与该第一P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第三金氧半导体电晶体之闸极上输入一第一控制信号;一第四金氧半导体电晶体,该第四金氧半导体电晶体连接于该电源电位节点与该第二P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第四金氧半导体电晶体之闸极上输入一第二控制信号;一电容器,该电容器连接于该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极与一接地电位节点之间;以及一转换元件,该转换元件连接于该资料线与该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极之间,利用一第三控制信号控制该转换元件之开/关。6.一种资料传送电路,包括:一资料线,该资料线传送一资料,且该资料线包括一列或复数列;复数个记忆胞,该些记忆胞各自连接于该资料线上,该些记忆胞在该资料线上进行该资料之输入及读取;复数个字元线,该些字元线之一与该些记忆胞之一各自连接,该资料之输入及读取之对象为该些记忆胞之一所选择之单个或复数个该些字元线;以及一遗漏电流检出/补偿电流发生电路,该遗漏电流检出/补偿电流发生电路连接于该资料线上,该遗漏电流检出/补偿电流发生电路在该资料进出该资料线之前,检出并记忆在该资料线上的一遗漏电流大小,且于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之一补偿电流。7.如申请专利范围第6项所述之资料传送电路,其中该遗漏电流检出/补偿电流发生电路包括:一遗漏电流检出电路,该遗漏电流检出电路连接于该资料线上,该遗漏电流检出电路在该资料进出该资料线之前检出在该资料线上的该遗漏电流大小;一遗漏电流记忆元件,该遗漏电流记忆元件记忆该资料线上所检出的该遗漏电流大小;以及一补偿电流发生电路,该补偿电流发生电路利用所记忆之该遗漏电流大小为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流。8.如申请专利范围第7项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之该遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为累积与所检出之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流的电路。9.如申请专利范围第7项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之该遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为转换传递所检出之该资料线之电位,及累积与所传递之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该遗漏电流相抵消之该补偿电流的电路。10.如申请专利范围第6项所述之资料传送电路,其中该遗漏电流检出/补偿电流发生电路包括:一第一P型通道金氧半导体电晶体,该第一P型通道金氧半导体电晶体之闸极与汲极连接于该资料线上;一第二P型通道金氧半导体电晶体,该第二P型通道金氧半导体电晶体之汲极连接于该资料线上;一第三金氧半导体电晶体,该第三金氧半导体电晶体连接于一电源电位节点与该第一P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第三金氧半导体电晶体之闸极上输入一第一控制信号;一第四金氧半导体电晶体,该第四金氧半导体电晶体连接于该电源电位节点与该第二P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第四金氧半导体电晶体之闸极上输入一第二控制信号;一电容器,该电容器连接于该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极与一接地电位节点之间;以及一转换元件,该转换元件连接于该资料线与该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极之间,利用一第三控制信号控制该转换元件之开/关。11.如申请专利范围第6项所述之资料传送电路,其中该各资料线利用分割转换器转换而共有一个该遗漏电流检出/补偿电流发生电路。12.如申请专利范围第6项所述之资料传送电路,更包括:前述各构成要素具备有复数个槽;一广域资料线,该广域资料线配设于对应各该些槽之同一列的该资料线上,且该广域资料线包括一列或复数列;以及复数个转换元件,该些转换元件各自连接于各该资料线与对应于各该资料线的该广域资料线之间,在同一槽中各自输入一槽选择信号至槽选择用的该些转换元件中。13.如申请专利范围第12项所述之资料传送电路,其中该各该广泛资料线利用槽选择用的该些转换元件上的分割转换器而与该广域资料线介入该资料线连接时,各自共有该遗漏电流检出,补偿电流发生电路。14.一种资料传送电路,包括:一资料线,该资料线传送一资料,且该资料线包括一列或复数列;一反转资料线,该反转资料线设于该资料线之相对位置,该反转资料线传送一反转资料,且该反转资料线包括一列或复数列;复数个记忆胞,该些记忆胞各自连接于该资料线及该反转资料线上,该些记忆胞在该资料线及该反转资料线上进行该资料之输入及读取;复数个字元线,该些字元线之一与该些记忆胞之一各自连接,该资料之输入及读取之对象为该些记忆胞之一所选择之该些字元线;一资料线测遗漏电流检出,补偿电流发生电路,该资料线侧遗漏电流检出/补偿电流发生电路连接于该资料线上,该资料线侧遗漏电流检出,补偿电流发生电路在该资料进出该资料线之前,检出并记忆在该资料线上的遗漏电流大小,且于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与该资料线上的遗漏电流相抵消之补偿电流;以及一反转资料线测遗漏电流检出/补偿电流发生电路,该反转资料线侧遗漏电流检出/补偿电流发生电路连接于该反转资料线上,该反转资料线测遗漏电流检出/补偿电流发生电路在该资料进出该反转资料线之前,检出并记忆在该反转资料线上的遗漏电流大小,且于该资料进出该反转资料线时,在该反转资料线上流入与该反转资料线上的遗漏电流相抵消之补偿电流。15.如申请专利范围第14项所述之资料传送电路,其中前述遗漏电流检出/补偿电流发生电路包括:一遗漏电流检出电路,该遗漏电流检出电路连接于该资料线上,该遗漏电流检出电路在该资料进出该资料线之前检出在该资料线上的遗漏电流大小;一遗漏电流记忆元件,该遗漏电流记忆元件记忆该资料线上所检出的前述遗漏电流大小;以及一补偿电流发生电路,该补偿电流发生电路利用所记忆之该遗漏电流大小为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与前述遗漏电流相抵消之补偿电流。16.如申请专利范围第15项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为累积与所检出之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与前述遗漏电流相抵消之补偿电流的电路。17.如申请专利范围第15项所述之资料传送电路,更包括:该遗漏电流检出电路系为连接于该资料线上,在该资料进出该资料线之前,检出与该资料线上之遗漏电流大小所对应发生之该资料线之电位的电路;该遗漏电流记忆元件系为转换传递所检出之该资料线之电位,及累积与所传递之该资料线之电位相对应的电荷,并发生与该资料线之电位为同等电位之一电容器;以及该补偿电流发生电路利用该电容器所发生之电位为基础,于该资料进出该资料线时,在该资料线上流入与前述遗漏电流相抵消之补偿电流的电路。18.如申请专利范围第14项所述之资料传送电路,其中该资料线测的遗漏电流检出/补偿电流发生电路与该反转资料线测的遗漏电流检出/补偿电流发生电路,包括:一第一P型通道金氧半导体电晶体,该第一P型通道金氧半导体电晶体之闸极与汲极连接于该资料线上;一第二P型通道金氧半导体电晶体,该第二P型通道金氧半导体电晶体之汲极连接于该资料线上;一第三P型通道金氧半导体电晶体,该第三P型通道金氧半导体电晶体之闸极与汲极连接于该反转资料线上;一第四P型通道金氧半导体电晶体,该第四P型通道金氧半导体电晶体之汲极连接于该反转资料线上;一第五金氧半导体电晶体,该第五金氧半导体电晶体连接于一电源电位节点与该第一P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第五金氧半导体电晶体之闸极上输入一第一控制信号;一第六金氧半导体电晶体,该第六金氧半导体电晶体连接于该电源电位节点与该第二P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第六金氧半导体电晶体之闸极上输入一第二控制信号;一第一电容器,该第一电容器连接于该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极与一接地电位节点之间;一第一转换元件,该第一转换元件连接于该资料线与该第二P型通道金氧半导体电晶体之闸极之间,利用一第三控制信号控制该第一转换元件之开/关;一第七金氧半导体电晶体,该第七金氧半导体电晶体连接于该电源电位节点与该第三P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第七金氧半导体电晶体之闸极上输入该第一控制信号;一第八金氧半导体电晶体,该第八金氧半导体电晶体连接于该电源电位节点与该第四P型通道金氧半导体电晶体之源极之间,并于该第八金氧半导体电晶体之闸极上输入该第二控制信号;一第二电容器,该第二电容器连接于该第四P型通道金氧半导体电晶体之闸极与该接地电位节点之间;以及一第二转换元件,该第二转换元件连接于该资料线与该第四P型通道金氧半导体电晶体之闸极之间,利用该第三控制信号控制该第二转换元件之开/关。19.如申请专利范围第18项所述之资料传送电路,其中该资料线侧的遗漏电流检出/补偿电流发生电路与该反转资料线侧的遗漏电流检出/补偿电流发生电路更包括在该资料线与该反转资料线之间连接一第三转换元件,利用一第四控制信号控制该第三转换元件之开/关。20.如申请专利范围第18项所述之资料传送电路,其中该各资料线与该各反转资料线利用分割转换器转换而共有一个该资料线侧的遗漏电流检出/补偿电流发生电路与该反转资料线侧的遗漏电流检出/补偿电流发生电路。图式简单说明:第1图所示为习知之半导体记忆元件的方块图。第2图所示为记忆胞之启始电压Vth、胞电流及关关闭遗漏电流之关系图。第3A图与第3B图所示为本发明之第一较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第4图所示为本发明之第二较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第5图所示为本发明之第三较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第6图所示为本发明之第四较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第7图所示为本发明之第五较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第8图所示为本发明之第六较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第9图所示为本发明之第六较佳实施例之资料传送电路之各控制信号波形之流程图。第10图所示为本发明之第七较佳实施例之资料传送电路之各控制信号波形之流程图。第11图所示为本发明之第八较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第12图所示为本发明之第九较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。第13图所示为本发明之第十较佳实施例之资料传送电路所构成的方块图。
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