| 主权项 |
1.一种量测发光二极体接点升温的方法,系包括下 列步骤:以一预设电流値驱动一LED,同时量测其接 点的升温,并以一种简单的校准程序读出LED高出周 围温度的摄氏度数;其中该驱动电流可由0至500mA分 二个范围调整,而LED的顺向电压亦可测量,藉此使 热阻的计算(℃/瓦特)容易进行者。2.一种发光二 极体接点测温装置,系包括: 一固定电流源电路,其不论载荷状况如何皆可输出 固定电流; 一可调电流源电路,系串联一电力电阻器以对受测 试LED供应驱动电流; 二个二极体,系对上述二电流源作OR(或)的作用,以 驱动受测试LED; 一MOSFET,使可调电流绕过以量测受测LED顺向电压; 一计时电路,系产生1%任务周期脉波; 一信号处理电路,系取得基准LED及受测LED的顺向电 压,经处理后而得升温度数; 二个二极体对二个电流源作OR(或)的作用以驱动受 测试LED; 该三个数位电表,用以显示资讯者。3.如申请专利 范围第2项所述之发光二极体接点测温装置,其中 该固定电流源电路系由分压器、反相和放大器、 电压随动器及反相放大器构成固定输出100A电流 者。4.如申请专利范围第2项所述之发光二极体接 点测温装置,其中该可调电流源电路系由分压器、 反相和放大器、电压随动器及反相放大器构成者 。5.如申请专利范围第2项所述之发光二极体接点 测温装置,其中该计时电路系由复数个电阻、振荡 器、反或闸(NOR)、电容、除法器以及一个开关所 构成者。6.如申请专利范围第2项所述之发光二极 体接点测温装置,其中该信号处理电路系由复数个 运算放大器、电阻、电容与一零电位计、一增益 电位计及一开关构成保持及取样电路与后置放大 电路者。7.如申请专利范围第2项所述之发光二极 体接点测温装置,其中该三个数位电表系分别读取 可调电流源电路的驱动电流、后置放大电路的净 电压变动値以及受测试LED驱动电流的顺向电压者 。8.如申请专利范围第5项所述之发光二极体接点 测温装置,其中使用此1%任务周期脉波,会产生一种 时间略长的驱动脉波而驱动MOSFET开关为在LED顺向 电压取样时改变驱动电流者。9.如申请专利范围 第5项所述之发光二极体接点测温装置,其中使用 此1%任务周期脉波以产生比原来脉波略短的S&H(取 样及保持)脉波,此信号用以驱动取样及保持电路 中的类比开关,该脉波必须比MOSFET的驱动脉波短, 以令MOSFET的暂态不会干扰取样及保持电路者。10. 如申请专利范围第6项所述之发光二极体接点测温 装置,其中该信号处理电路使用零电位计以调整二 个LED间顺向电压的差値至零者。图式简单说明: 第1图系本发明装置实施例之方块图。 第2A图系第1图中之计时电路实施例图。 第2B图系表示图2A原有信号及延迟信号供予一AND闸 产生脉冲的示意图。 第2C图系表示图2A原有信号及延迟信号供予一OR闸 产生脉冲的示意图。 第3图系第1图中之固定电流源电路之实施例电路 图。 第4图系第1图中之可调电流源电路之实施例电路 图。 第5图系第1图中之信号处理电路之实施例电路图 。 |
