| 发明名称 |
Radiation inspection system |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2359472(B) |
申请公布日期 |
2002.05.01 |
| 申请号 |
GB20000026607 |
申请日期 |
2000.10.31 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS COMPANY LIMITED |
发明人 |
YONG-WON * KIM;HYO-NAM * JOO;HYEONG-CHEOL * KIM |
| 分类号 |
G01N23/04;G21K1/04;G21K5/02;G21K5/10;H04N5/225;(IPC1-7):G21K1/04 |
主分类号 |
G01N23/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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