发明名称 | 液晶盒厚度检测方法、液晶盒厚度控制系统及液晶装置制造方法 | ||
摘要 | 提供一种新的液晶盒厚度测定方法,可以精确地检测液晶面板的液晶盒厚度,而不因滤色器的存在而受影响。利用分光单元141对透过夹持液晶显示面板10的加压夹具的光进行分光,根据该分光光谱中的极小值或极大值的波长或频率求出液晶盒厚度。将检测出的液晶盒厚度与目标值进行比较,与该比较结果对应,利用压力控制单元132向加压夹具供给流体。 | ||
申请公布号 | CN1340690A | 申请公布日期 | 2002.03.20 |
申请号 | CN01132511.9 | 申请日期 | 2001.08.31 |
申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 黑岩雅宏 |
分类号 | G01B11/06;G02F1/1339 | 主分类号 | G01B11/06 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王岳;张志醒 |
主权项 | 1、一种液晶盒厚度检测方法,用来检测将2块衬底粘贴在一起并在该衬底间配置液晶层的液晶面板的液晶盒厚度,其特征在于:设定依次通过第1偏振光装置、上述液晶层和第2偏振光装置的光路,对通过该光路的光进行分光,求出上述光的分光光谱中的能得到极小值或极大值的波长或频率或与它们相关的对应值的检测值,根据该检测值得出上述液晶盒厚度。 | ||
地址 | 日本东京都 |