| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé et un dispositif pour tester des cartes de circuits imprimés au moyen d'un contrôleur en parallèle, ces cartes comportant des pistes conductrices dont les terminaisons constituent des points de test desdites cartes, les tests consistant à établir des contacts avec ces points. Le procédé comprend les opérations suivantes : - tester une carte de circuits imprimés au moyen d'un contrôleur en parallèle, en établissant un contact entre les points de test des cartes à contrôler et des éléments de contact du contrôleur, - déterminer les points de test desdites cartes, qui, soit ont été jugés comme ne pouvant pas être mis correctement en contact avec le contrôleur, soit ne peuvent pas être mis du tout en contact avec celui-ci, et effectuer une nouvelle mesure des points jugés comme ne pouvant pas être mis correctement en contact ou ne pouvant pas être mis du tout en contact, ainsi que des pistes conductrices reliées à ces points, au moyen d'un dispositif indépendant des éléments de contact du contrôleur.</p> |
