发明名称 |
制造半导体结构的方法 |
摘要 |
制造半导体结构的一种优选的方法,包括改变一种外延基区双极晶体管(10)的基区层(17、21)中多晶晶界(38)的方向和使其位置最佳。通过淀积将形成较低的基区部分的基区层(17)后对半导体结构进行退火,可以实现晶界(38)的改变。改变晶界(38)对降低基区电阻(Rbx1,Rbx2)有明显作用。降低基区电阻(Rbx1,Rbx2)能显著地改善器件的性能。$#! |
申请公布号 |
CN1080930C |
申请公布日期 |
2002.03.13 |
申请号 |
CN95101855.8 |
申请日期 |
1995.02.25 |
申请人 |
摩托罗拉公司 |
发明人 |
埃道德·D·德弗里萨特;约翰·W·斯蒂尔;N·戴维·西奥多 |
分类号 |
H01L21/324 |
主分类号 |
H01L21/324 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王以平 |
主权项 |
1.一种制造半导体结构(10)的方法,包括下列步骤:设置底层结构(16),包括外延区(11)和相邻的隔离区(13),该外延区与隔离区在界面(50)处相接;以及在底层结构(16)上面形成半导体层(17),半导体层(17)包括起源于界面(50)处的晶界(38),该晶界(38)有一个取向,该方法的特征是:通过退火该晶界来改变晶界方向而不移动晶界起点,从而改变晶界的取向。 |
地址 |
美国伊利诺斯 |