发明名称 制造半导体结构的方法
摘要 制造半导体结构的一种优选的方法,包括改变一种外延基区双极晶体管(10)的基区层(17、21)中多晶晶界(38)的方向和使其位置最佳。通过淀积将形成较低的基区部分的基区层(17)后对半导体结构进行退火,可以实现晶界(38)的改变。改变晶界(38)对降低基区电阻(Rbx1,Rbx2)有明显作用。降低基区电阻(Rbx1,Rbx2)能显著地改善器件的性能。$#!
申请公布号 CN1080930C 申请公布日期 2002.03.13
申请号 CN95101855.8 申请日期 1995.02.25
申请人 摩托罗拉公司 发明人 埃道德·D·德弗里萨特;约翰·W·斯蒂尔;N·戴维·西奥多
分类号 H01L21/324 主分类号 H01L21/324
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1.一种制造半导体结构(10)的方法,包括下列步骤:设置底层结构(16),包括外延区(11)和相邻的隔离区(13),该外延区与隔离区在界面(50)处相接;以及在底层结构(16)上面形成半导体层(17),半导体层(17)包括起源于界面(50)处的晶界(38),该晶界(38)有一个取向,该方法的特征是:通过退火该晶界来改变晶界方向而不移动晶界起点,从而改变晶界的取向。
地址 美国伊利诺斯