发明名称 | 芯片内调试系统 | ||
摘要 | 本文介绍了一种改进的芯片内调试系统。该芯片内调试系统包含了数据带选择器,它根据需要,有选择性地将集成电路中处理器产生的数据带传送给仿真器。仿真器依据从主机那里接收来的指令,指导数据带选择器。 | ||
申请公布号 | CN1339128A | 申请公布日期 | 2002.03.06 |
申请号 | CN99816502.6 | 申请日期 | 1999.12.21 |
申请人 | 因芬尼昂技术北美公司 | 发明人 | A·温策;E·切斯特斯;R·G·弗勒克;G·谢蒂 |
分类号 | G06F11/34;G06F11/00 | 主分类号 | G06F11/34 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;张志醒 |
主权项 | 1.一种集成电路,用来选择性地提供其中所选部件的操作测试数据,电子部件响应控制信号,产生数据带形式的操作数据,数据带被用来评价集成电路的功能,该集成电路包括:多个输入/输出线,恰当安排用来连接电子部件和外部电路,外部电路用来响应测试程序提供控制信号,控制信号可以指导所选的电子部件产生相关的数据带;以及与多个电子部件相连的数据带选择器,用于依据测试程序中的指令,选择控制信号指导的某些数据带。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |