| 主权项 |
1.一种用以自动认出数位影像中之一组缺陷位置 之方法,缺陷位置由用以自文件之影像产生数位影 像之一数位化装置中之缺陷所引起,其中,数位影 像包含多个像素位置,每一像素位置具有一像素色 値,该方法包括步骤: 扫描多个文件,以产生多个数位影像; 分配多个数位影像之每一数位影像之每一像素位 置一像素色値,其中,一像素之特征为其位置及颜 色; 对有关区域中之每一像素位置累计文件中每一像 素位置包含一共同色値之一像素之计数;及 加进具有一计数高于一临限之像素位置于该组位 置中。2.如申请专利范围第1项所述之方法,另包含 步骤:当特定像素位置与已知存在于在该扫描步骤 中受扫描之多个文件上之一像素图形相关连时,移 去该组中之特定像素位置。3.如申请专利范围第1 项所述之方法,其中,该共同色値为与黑色或白色 相关连之一色値。4.如申请专利范围第1项所述之 方法,其中,该有关之区域为一整个影像。5.如申请 专利范围第1项所述之方法,其中,该有关之区域由 在累计步骤中可用之记忆器之量限制。6.如申请 专利范围第1项所述之方法,其中,该有关之区域为 在一文件之可能像素位置上变化之一行。7.如申 请专利范围第1项所述之方法,其中,该累计步骤仅 在连续文件中之像素位置具有在一像素位置中之 一共同色値时方执行,并另含有步骤:删除在连续 文件中具有不同颜色之像素之位置。8.如申请专 利范围第1项所述之方法,另包含步骤:供应具有可 疑像素値标示之一数位影像。9.如申请专利范围 第8项所述之方法,另包含步骤:使用一影像连续方 法回复像素値于该组之像素位置中。10.如申请专 利范围第1项所述之方法,另包含步骤: 维持试探性缺陷位置之一表,其中,该表中之登记 指示一像素色値及一计数; 当该像素位置之像素颜色为一缺陷颜色时,加进一 像素位置于该表中; 当所指示之像素颜色及一缺陷位置之一像素颜色 为相同颜色时,增加该缺陷位置之计数;及 当一试探性缺陷位置之计数增加至一临限値以上 时,指示该试探性缺陷位置为一缺陷位置。11.如申 请专利范围第10项所述之方法,另包含步骤:当该指 示之像素颜色及该位置之一像素颜色为不相同之 颜色时,减少该计数。12.如申请专利范围第11项所 述之方法,其中,该减少步骤减少该计数至零。13. 如申请专利范围第10项所述之方法,另包含步骤:该 当指示之像素颜色及一缺陷位置之一像素颜色并 非相同颜色时,移去该表中之该试探性缺陷位置。 14.如申请专利范围第10项所述之方法,其中,该表限 于固定数目之登记,且仅如有一登记可用时,方加 进一像素位置于该表中。15.如申请专利范围第10 项所述之方法,其中,仅如该像素位置系在一游标 区以内时,方加进一像素位置于该表中。16.如申请 专利范围第15项所述之方法,其中,该游标区加以变 化,以涵盖不同之区域。17.如申请专利范围第1项 所述之方法,其中,该文件包含文字及图画。18.如 申请专利范围第1项所述之方法,其中,该缺陷由数 位化装置中之一缺陷或置于数位化装置及受扫描 及数位化之文件间之一板之缺陷所引起。19.如申 请专利范围第1项所述之方法,其中,该累计步骤使 用不同阶之所储存影像框来保持该步骤之结果,另 包含步骤: 解压缩至少一所储存之影像框; 合并欲累计之一影像及该至少一所储存之影像框, 以形成一第一阶所储存之影像框; 再压缩该第一阶影像框; 合并第一阶所储存之影像框及另外之第一阶所储 存之影像框,以形成一第二阶影像框; 如需要,重覆该合并,以产生更高阶之框;及 提供一第二阶影像框或一更高阶影像框作为缺陷 表。20.如申请专利范围第19项所述之方法,其中,解 压缩,合并,及再压缩之步骤每次执行一扫描线。21 .如申请专利范围第19项所述之方法,其中,解压缩, 合并,及再压缩之步骤对亮及暗像素二者执行。22. 如申请专利范围第21项所述之方法,其中,该合并步 骤为对一较不通用之像素颜色之票决合并,及对较 为通用之像素颜色之一〝或〞作用合并。图式简 单说明: 图1为使用本发明之缺陷侦测系统之一文件数位化 系统之方块图; 图2为方块图,更详细显示图1所示之缺陷侦测系统; 图3(a)显示四个文件产生一个合计影像; 图3(b)显示四个含有共同缺陷的影像产生一个合计 影像; 图3(c)显示使用具有刮痕的扫瞄机构所获得之合计 影像; 图4为本发明之缺陷侦测程序之流程图; 图5显示一实际缺陷侦测试验之结果; 图6为无效率使用FIFO之方块图; 图7为用以储存缺陷表之一圆形堆叠之记忆器图; 图8显示用以显示文件影像之收集来侦测缺陷之另 一方法;及 图9为用以自动侦测白及黑缺陷之一页框装置之方 块图。 |
