首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Non-destructive analysis of a semiconductor using reflectance spectrometry
摘要
申请公布号
AU743188(B2)
申请公布日期
2002.01.17
申请号
AU19990035718
申请日期
1999.04.20
申请人
ALEXANDER P. CHERKASSKY
发明人
ALEXANDER P. CHERKASSKY
分类号
G01B11/06;G01N21/00;G01N21/35;H01L21/66;(IPC1-7):G01B11/02
主分类号
G01B11/06
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
镝掺杂稀土钛酸盐上转换发光材料、制备方法及其应用
产生柱矢量光束的装置及方法
一种亲电型生物载体及其制备方法
循环流化床锅炉节能最优化系统及方法
基于轨道称计量的自动加料控制方法、装置和系统
一种面向机床有限元分析的丝杠螺母数据库建立方法
光碟播放装置
注射成型机
运输用啮合链条单元及啮合链条式运输装置
磺胺二甲嘧啶分子印迹仿生识别试剂盒及制备方法和应用
一种水流控制装置及方法
一种镁合金的钨级氩弧焊焊接方法
相位测量系统中伽玛值标定方法
基于仿生学原理的用于人工颈椎间盘假体疲劳试验的专用夹具
热风枪
一种复杂形状薄板件局部减薄电火花加工装置及加工工艺
一种促进胃肠功能的中成药及其制备方法
DRIVE DEVICE AND DRIVE METHOD FOR VACUUM FLUORESCENT DISPLAY TUBE
AUXIN HERBICIDAL MIXTURES
一种马铃薯的缺陷检测方法