发明名称 Ic testing method and ic testing device using the same
摘要
申请公布号 GB2335280(B) 申请公布日期 2002.01.16
申请号 GB19990012919 申请日期 1997.11.20
申请人 * ADVANTEST CORPORATION 发明人 YOSHIHIRO * HASHIMOTO
分类号 G01R31/30;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/26;G01R31/28;G01R31/38 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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