| 主权项 |
1.一种晶片测试机之晶片分类装置,配合设置于双座晶片测试机上,用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类,该处理装置包含有:二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,用以承接测试完成的晶片,该二进料管之底端各设有一阻挡器,可用来控制晶片是否向下掉出;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,用以驱动该二活动载台,该二活动载台之底端各设有一阻挡器,可用来控制晶片是否向下掉出;四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧之二出料管对正于该二进料管;藉此,测试完成的晶片沿该二进料管进入该二活动载台后,该二活动载台即受驱动而将晶片依其测试后之良劣结果分别移至对应之出料管,进而达到分类区隔的效果。2.依据申请专利范围第1项所述之晶片测试机之晶片分类装置,其中:该阻挡器系为一气缸,利用其活塞杆伸入于各该料管内来产生挡止、释放等动作。3.依据申请专利范围第1项所述之晶片测试机之晶片分类装置,其中:各该驱动器系为一空压缸,以其活塞杆连接于该活动载台。4.依据申请专利范围第1项所述之晶片测试机之晶片分类装置,其中:该四出料管中位于外侧之二出料管之底端设有一阻挡器,可用来控制晶片是否向下掉出。图式简单说明:第一图系本创作一较佳实施例之组合示意图;第二图系本创作一较佳实施例配合设置于测试台上之组合示意图;第三图系本创作一较佳实施例配合设置于测试台上之侧视示意图;第四图系本创作一较佳实施例之动作状态图;第五图系本创作一较佳实施例之另一动作状态图;第六图系本创作一较佳实施例之再一动作状态图; |
