发明名称 |
Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
摘要 |
Die Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop besteht aus einem Laser (1) und einem optischen Mittel (12), das das von dem Laser (1) erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe (13) abbildet. Zwischen dem Laser (1) und dem optischen Mittel (12) ist ein optisches Bauelement (3, 20) vorgesehen, das das vom Laser (1) erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral verbreitert. Das optische Bauelement (3, 20) besteht aus photonic-band-gap-material. Besonders vorteilhaft ist es, wenn das photonic-band-gap-material als Lichtleitfaser (20) ausgebildet ist.
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申请公布号 |
DE10115509(A1) |
申请公布日期 |
2001.12.20 |
申请号 |
DE2001115509 |
申请日期 |
2001.03.29 |
申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH |
发明人 |
BIRK, HOLGER;STORZ, RAFAEL |
分类号 |
G02B6/00;G02B5/00;G02B5/04;G02B5/18;G02B5/22;G02B6/02;G02B6/122;G02B6/255;G02B21/00;G02B21/06;G02B27/00;H01S3/00;H01S3/16;(IPC1-7):G02B21/06;G02F2/02;G02F1/33;G02F1/11 |
主分类号 |
G02B6/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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