| 发明名称 |
DISPOSITIF DE SPECTROMETRIE DE MASSE A IONS SECONDAIRES UTILISANT UN PROCEDE DE LIMITATION DU CHAMP. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2675945(B1) |
申请公布日期 |
2001.11.02 |
| 申请号 |
FR19920005015 |
申请日期 |
1992.04.23 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI INSTRUMENT ENGINEERING |
发明人 |
IKEBE YOSHINORI;TAMURA HIFUMI;SUMIYA HIROYUKI;FURUKI AKEMI |
| 分类号 |
H01J37/252;G01N23/225;G01Q30/02;G01Q60/44;H01J37/256;H01J49/14;H01J49/32 |
主分类号 |
H01J37/252 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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