发明名称 Anordnung zur Pruefung von Halbleiterbauelementen, insbesondere von Transistoren
摘要
申请公布号 DE1159095(B) 申请公布日期 1963.12.12
申请号 DE1961E020800 申请日期 1961.03.21
申请人 ELEKTRO-GERAETE-BAU GUSTAV KLEIN 发明人 DOBRINSKI DR. PAUL
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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