| 摘要 |
<p>Zum Testen eines elektronischen Systems werden Werte interner Register des elektronischen Systems ermittelt und in einer Testumgebung gespeichert, wobei Befehle für das zu testende elektronische System erzeugt werden, die dazu führen, dass sich die Werte einzelner Register verändern. Es wird festgestellt, in welchen Registern sich die Werte geändert haben. Die geänderten Werte werden gespeichert. Eine Testumgebung zur Untersuchung elektronischer Systeme enthält einen Komparator (COMP), der feststellen kann, ob sich ein in dem Register (BR) gespeicherter Wert verändert hat.</p> |
