发明名称 APPARATUS AND PROCESS FOR HIGH TEMPERATURE WAFER EDGE POLISHING
摘要 <p>On décrit un appareil (10) et un procédé de polissage chimiomécanique d'un bord (24) d'une tranche (22) à semi-conducteurs dans lesquels on utilise un tampon à polir (16) chauffé et une pâte (56) chimique liquide chauffée. L'appareil comprend un tambour rotatif (12) présentant une surface externe cylindrique, un tapis (40) pouvant être chauffé qui est placé autour de la surface externe du tambour et un tampon à polir (16) positionné globalement parallèlement au tapis. Un porte-tranche (32), un récipient (50) de pâte liquide et un système d'apport de pâte sont également prévus. Le procédé comprend les étapes suivantes : on chauffe la pâte liquide (56) jusqu'à une température élevée et on applique de la chaleur sur le tampon à polir (16) depuis la partie de dessous (20) de ce dernier pour élever la température du tampon à polir. Un bord périphérique (24) de la tranche (22) à semi-conducteurs est en contact avec un côté (18) de polissage du tampon à polir (16) et on effectue un mouvement relatif entre la tranche et le tampon alors que la pâte chauffée est apportée simultanément sur une région où le bord de la tranche est en contact avec le tampon.</p>
申请公布号 WO2001062437(A1) 申请公布日期 2001.08.30
申请号 US2001004721 申请日期 2001.02.14
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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