发明名称 Trenchfilling method of a semiconductor device
摘要 <p>Auf einer Halbleiterstruktur wird in Vertiefungen auf der Oberfläche, insbesondere unterhalb der ersten Metallstrukturebene, eine Diffusionsbarriereschicht, vorzugsweise mit Hilfe einer plasmaunterstützten Gasphasenabscheidung, bei der die im Plasma enthaltenen Ionen senkrecht zur Oberfläche beschleunigt werden, abgeschieden, so dass sich eine nicht konforme Abscheidung der Diffusionsbarriereschicht ergibt. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1128420(A2) 申请公布日期 2001.08.29
申请号 EP20010103453 申请日期 2001.02.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KIRCHHOFF, MARKUS, DR.
分类号 C23C16/507;H01L21/314;H01L21/316;H01L21/318;C23C16/04;(IPC1-7):H01L21/314 主分类号 C23C16/507
代理机构 代理人
主权项
地址