| 发明名称 |
Manufacturing functional testing of computing devices using microprogram based functional tests applied via the devices own emulation debug port |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2324628(B) |
申请公布日期 |
2001.08.15 |
| 申请号 |
GB19980004595 |
申请日期 |
1998.03.04 |
| 申请人 |
* HEWLETT PACKARD COMPANY;* HEWLETT-PACKARD COMPANY;* AGILENT TECHNOLOGIES, INC. |
发明人 |
MAURO V * TEGETHOFF |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/22;G06F11/26;G06F11/36;H01L21/02;H01L21/66;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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