发明名称 晶片整合刚性支持环
摘要 一个障板用于沉积焊料堆,包括附加虚设孔,位于晶片上相应于多数周边芯片的孔附近。附加虚设物提供了晶片触点更均匀的等离子体蚀刻,改善了周边芯片触点的蚀刻,并降低了周边芯片触点的触点电阻。多余孔还提供了周边芯片外的焊料堆,可以用于支持第二障板,它用于附加材料,如锡,沉积在回流焊料堆上,用于以低的温度将芯片安装在塑料基底上。改善的对齐辅助工具避免对检测探针的损坏,并提供改善的对齐过程。
申请公布号 CN1308374A 申请公布日期 2001.08.15
申请号 CN00133852.8 申请日期 2000.09.16
申请人 国际商业机器公司 发明人 H·D·科希;D·P·丹尼尔;L·J·加德基;A·J·格雷戈里特斯奇三世;R·A·M·朱利亚内勒;C·H·基勒;D·P·普拉斯基;M·A·谢弗;D·L·史密斯;D·J·斯佩希特;A·E·维尔辛
分类号 H01L23/48;H01L21/60 主分类号 H01L23/48
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 叶恺东
主权项 1一种晶片,包括:一个芯片阵列,具有触点,所述触点包括焊料堆,所述芯片阵列包括沿晶片外围伸出的周边芯片;和附加虚设焊料堆,位于多数所述周边芯片附近,其中所述附加虚设焊料堆用于改善所述周边芯片的触点工艺。
地址 美国纽约州