发明名称 AN ALGORITHMIC TEST PATTERN GENERATOR, WITH BUILT-IN-SELF-TEST (BIST) CAPABILITIES, FOR FUNCTIONAL TESTING OF A CIRCUIT
摘要 <p>Un système de test comprend un générateur (30) de données de test qui envoie des données de test (un vecteur de test par exemple) à un circuit défini (un circuit vidéo de télévision numérique par exemple). La fonctionnalité des données de test vérifie le circuit défini. La vérification du fonctionnement du circuit défini est effectuée au moyen d'une sortie du circuit défini qui a été générée en réponse aux données de test conformément à une fonctionnalité de fonctionnement du circuit défini. Le générateur de données de test est également couplé pour envoyer les données de test à un circuit d'autovérification incorporé (BIST) (46 et 56) pour permettre à ce dernier de recevoir les données de test en même temps que la condition de ce dernier pour le circuit défini, et pour effectuer une autovérification intégrée au moyen des données de test. Le générateur de données de test et le circuit d'autovérification incorporé peuvent être mis en oeuvre au sein d'un bloc fonctionnel intégré inclus dans un circuit intégré.</p>
申请公布号 WO2001051940(A1) 申请公布日期 2001.07.19
申请号 US2001001129 申请日期 2001.01.12
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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