| 摘要 |
<p>Cette invention a trait à un système d'inspection de circuit électrique comportant un sous-système optique, permettant une inspection optique d'un circuit électrique et produisant des données de sortie d'inspection identifiant plus de deux types différents de régions, ainsi qu'un sous-système d'analyse, analysant les données de sortie d'inspection. Cette analyse consiste à comparer les données de sortie d'inspection avec une référence de fichier informatique identifiant plus de deux types différents de régions. L'invention concerne également une inspection de circuit électrique.</p> |
