| 发明名称 |
Verfahren zur Überprüfung einer Halbleiter-Speichervorrichtung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE59509288(D1) |
申请公布日期 |
2001.06.28 |
| 申请号 |
DE19955009288 |
申请日期 |
1995.03.15 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
RIEGER, JOHANN;VON DER ROPP, DR. |
| 分类号 |
G11C11/401;G11C29/00;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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