发明名称 IC testing apparatus
摘要 A tray transfer arm 205 for transferring one or more customer trays KST which hold semiconductor devices IC, comprises a pair of tray holders 205a, 205b which are provided substantially in the upper and lower direction.
申请公布号 US6248967(B1) 申请公布日期 2001.06.19
申请号 US19990290400 申请日期 1999.04.13
申请人 ADVANTEST CORPORATION 发明人 NAKAMURA HIROTO
分类号 G01R31/26;B65G61/00;G01R31/01;G01R31/28;H01L21/00;H01L21/673;H01L21/677;(IPC1-7):B07C5/344;B65H1/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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