| 摘要 |
<p>본 발명은 1 ㎓ 이상의 높은 주파수로 동작하는 집적회로 소자를 검사하기에 적합한 검사 소켓에 관한 것으로서, 상기 검사 소켓은 동일 평면 상에 행렬로 면배열되어 있는 접속 수단 각각은 상기 집적회로 소자의 외부 리드와 상기 외부 기판의 전도성 패턴을 전기적으로 연결시키는 접속핀과 이 접속핀을 지지하는 탄성 지지체를 포함하며, 상기 접속핀은 상기 집적회로 소자의 외부 리드와 직접 접촉되는 오목면을 갖는 제1 접촉부와 이 제1 접촉부에 가해지는 누름힘이 직접 전달되는 제1 가압부와 상기 제1 접촉부와 반대쪽에 위치하며 상기 외부 기판의 전도성 패턴과 직접 접촉하고 반구 형상으로 돌출된 제2 접촉부와 상기 제1 가압부에 전달되는 것과는 반대 방향으로 상기 누름힘이 전달되는 제2 가압부를 구비하며, 상기 탄성 지지체는 상기 접속핀이 끼움 실장되는 관통 구멍과 상기 접속핀의 제1 가압부와 직접 접촉하는 제1 탄성면과 상기 접속핀의 제2 가압부와 직접 접촉하는 제2 탄성면을 구비한다. 따라서, 상기 제1 가압부에 전달된 누름힘이 상기 제1 탄성면에 의해 반발되어 상기 제1 접촉부에는 반발력이 전달되고 상기 제2 가압부에 전달된 누름힘은 상기 제2 탄성면에 의해 반발되어 상기 제2 접촉부에도 반발력이 전달됨으로써, 접속핀의 길이를 짧게 하면서도 피검사 소자 및 검사 기판과 접속핀의 전기적, 기계적 연결성을 개선할 수 있다.</p> |
