发明名称 METHOD FOR MEASURING TWO-DIMENSIONAL POTENTIAL DISTRIBUTION IN CMOS SEMICONDUCTOR COMPONENTS
摘要
申请公布号 EP1105742(A1) 申请公布日期 2001.06.13
申请号 EP19990950492 申请日期 1999.07.30
申请人 IHP GMBH 发明人 RAU, WOLF-DIETER
分类号 G01N23/04;G01R31/265;G01R31/307;H01L21/66;H01L21/8238;H01L27/092;H01L29/00;(IPC1-7):G01R31/307 主分类号 G01N23/04
代理机构 代理人
主权项
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