| 主权项 |
1.一种量测高频及微波元件特性的向量网路分析仪架构,其包括(a)信号源部份:采用可程式化虚拟乱数码序列产生器,使用者可透过某种控制机构来指定此可程式化虚拟乱数码序列产生器产生量测所需之虚拟乱数码序列周期;(b)接收机部份:包括射频开关、桥接器(bridge)等如图示之信号流向控制机制;一个射频频率合成器(频率为fc+fif)提供将发射信号降至中频所需之本地信号源;(c)数位信号处理部份:此部份之特点为采用快速傅立叶转换的方法,将数位/类比(A/D)取样后之时域信号转为频域信号。2.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中信号源部份,可程式化虚拟乱数码序列产生器之位元速率(chip rate, fb)由一个可调频率之信号产生器(频率为fb)提供,此位元速率决定每一次量测可获得之频宽;所产生之虚拟乱数码序列信号经由一个射频频率合成器(频率为fc)及一个混频器调变至欲量测频段之某一部份,以进行此一部份之量测。3.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中信号源部份,完成此部份之量测后,此射频频率合成器可跳至所欲量测频段之下一部份进行量测,其跳频之间隔和每一次量测可获得之频宽相关。上述可调频率之信号产生器(频率为fb)及射频频率合成器(频率为fc)均由一个参考信号产生器(频率为f0)触发,以达到同步。4.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中接收机部份,只采用一个中频频率。5.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中接收机部份,一个可程式化虚拟乱数码序列产生器,其特性及结构与上述之可程式化虚拟乱数码序列产生器相同,此一可程式化虚拟乱数码序列产生器提供了接收机中,测试频道之滑动相关器,及参考频道之滑动相关器所需之信号源。6.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中接收机部份,所有的信号源均同步于参考信号产生器(频率为f0)。7.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪其中信号源与接收机部份,此信号源与接收机只需采用一个接收频道来检测信号,可解决不同的频道之间不平衡的问题。8.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪,该量测高频及微波元件特性的向量网路分析仪架构,运用滑动相关器技术;其系在时域上量测待测元件,然后再应用快速傅立叶转换将时域的资讯转换为频域的资讯;使用滑动相关器技术之特征在于:(a)使用此种量测方法,每一次量测可获得相当频宽的频域资讯,亦即增加了每一次量测的效率;(b)在量测元件时,信号源不需连续地扫描所有欲量测之频带,在某一个射频频率,即可量测以射频频率为中心的一段频宽;(c)只须使用频率合成器在向量网路分析仪架构之信号源产生跳频,不需使用可稳定连续扫频之信号源,可降低信号源之复杂度及成本。9.如申请专利范围第1项所述之向量网路分析仪,其量测网路的方法,其特征为:(a)为取得取样时序信号,将未经过待测网路(DeviceUnder Test)之参考频道信号,输入参考频道之滑动相关器,并以其输出触发数位/类比(A/D)取样电路;(b)每做完一次量测后,如尚未完成所有频段之量测时,射频频率产生器及跳至下一个频率进行量测,此处跳频间隔为fb。图式简单说明:第一图HP-8510向量网路分析仪第二图使用滑动相关器技术之向量网路分析仪架构(a)信号源部份(b)接收机部份(c)数位信号处理部份第三图使用滑动相关器技术之向量网路分析仪基频模型第四图滑动相关器之输出y(t)第五图使用滑动相关器技术之向量网路分析仪量测网路程序之流程图第六图另一架构方块图 |
