发明名称 Herstellverfahren für eine Siliziumdioxid-Schicht auf einer Topographie sowie eine nach diesem Verfahren hergestellte Siliziumdioxidschicht
摘要
申请公布号 DE19600305(C2) 申请公布日期 2001.05.03
申请号 DE19961000305 申请日期 1996.01.05
申请人 SIEMENS AG 发明人 TOEBBEN, DIRK;GROTELOH, DOERTHE;SPINDLER, OSWALD;ROGALLI, MICHAEL
分类号 B32B9/00;H01L21/31;H01L21/316;H01L21/768;(IPC1-7):C23C26/00;C23C16/40 主分类号 B32B9/00
代理机构 代理人
主权项
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