发明名称 | 半导体的制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体的制造方法,包括步骤:提高室温度至1000℃,以4.01/min流率,引入氨气,作为氮的来源,以4.01/min流率,引入氢气,作为载子气体,以40×10<SUP>-6</SUP>mol/min流率,引入TMG气体,作为镓的来源,以2×10<SUP>-6</SUP>mol/min流率,引入Cp<SUB>2</SUB>Mg气体,作为镁杂质的来源,然后进行外延成长掺杂镁的GaN层,再缓慢降温10分钟至700度,在此过程中,使氢气与氨气流率逐渐减小至关闭,逐渐开放氮气进入外延室,使其流率增加至201/min,继而缓慢降至室温。 | ||
申请公布号 | CN1290044A | 申请公布日期 | 2001.04.04 |
申请号 | CN99119734.8 | 申请日期 | 1999.09.28 |
申请人 | 晶元光电股份有限公司 | 发明人 | 刘家呈;周铭俊;章绢明 |
分类号 | H01L33/00;H01L21/203 | 主分类号 | H01L33/00 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 徐娴 |
主权项 | 1、一种III-V族化合物半导体的制造方法,供使用于一制造室中,在一第一预定温度下,以第一预定流率,引入含V族化学元素的第一种气体,作为V族化学元素的来源,完成外延成长掺杂一种P型杂质的一层III-V族化合物半导体材料后,使P型杂质活化,其特征在于,包括以下步骤:一第一冷却步骤,在一预定时段内,使该层III-V族化合物半导体材料在制造室中,自第一预定温度缓慢冷却至一第二预定温度,同时逐渐开放一种非活性气体进入制造室,并使其流率自零增大至一预定流率,同时逐渐使V族气体关闭至零;一第二冷却步骤,使该层III-V族化合物半导体材料在该制造室中,在完成第一冷却步骤后,继续在非活性气体的气氛下缓慢冷却至一第三预定温度。 | ||
地址 | 中国台湾 |