发明名称 半导体装置之插座
摘要 本发明提供一种半导体装置之插座,可以防止各种外来材料之粘贴到半导体装置之外部引线之后侧之安装表面。在该种半导体装置之插座中,本体之定位基座用以支持从半导体装置延伸之每一个外部引线之肩部,其状态是使外部引线之端点成为浮动,同时在端点之安装表面不会接触任何部位,和每一个可动接触端子之接触部位与对应之外部引线之肩部产生电连接。可动接触端子被设置成与定位基座之外面之外部引线形成互相对应,而且当可动盖子垂直移动时即被开放或闭合。
申请公布号 TW241390 申请公布日期 1995.02.21
申请号 TW083100147 申请日期 1994.01.10
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 小林邦夫;出田安;金子佳子;梅津蓌德;鹫谷明宏
分类号 H01L23/28;H01L23/32;H01L23/48 主分类号 H01L23/28
代理机构 代理人 赖经臣 台北巿南京东路三段三四六号白宫企业大楼一一一二室
主权项 1.一种半导体装置之插座,用以将外部电路连接到 半导体 装置之外部引线藉以测试该装置,该插座包含有: 一个本 体;和一个可动盖子;其中该本体用以支持该半导 体装置 其状态是使每一个外部引线之端点之安装表面成 为浮动, 和包含有可动接触端子被设置成与该半导体装置 之该外部 引线互相对立;和该可动盖子被设在该本体形成可 垂直移 动之方式,以便当该可动盖子移动成与该本体组合 时用以 安装该半导体装置,和当该可动盖子移动成与该本 体分开 时用以使该可动接触端子分别推压该半导体装置 之该外部 引线之肩部或倾斜部份。2.如申请专利范围第1项 之半导体装置之插座,其中每一 个可动接触端子具有一个接触部位包括有一些突 出部。3.如申请专利范围第1项之半导体装置之插 座,其中每个 可动接触端子是一种螺旋弹簧型接触端子,利用凸 轮之操 作使其开放或闭合。4.一种半导体装置之插座,用 以将外部电路连接到半导体 装置之外部引线藉以测试该装置,该插座包含有: 一个本 体;和一个可动盖子;其中该本体用以支持该半导 体装置 和包含有一个引线端点支持表面用以支持在该半 导体装置 之该外部引线之端点之该安装表面,其中至少以形 状和材 料的其中之一用以防止外来材料之沈积,和可动接 触端子 被设置成与该半导体装置之该外部引线互相对立; 和该可 动盖子被设在该本体形成可垂直移动之方式,以便 当该可 动盖子移动成与该本体组合时用以安装该半导体 装置,和 当该可动盖子移动成与该本体分开时用以使该可 动接触端 子分别推压该半导体装置之该外部引线之安装表 面之前侧 。5.如申请专利范围第4项之半导体装置之插座,其 中该引 线端点支持表面具有一个凸出部份以最小区域支 持该外部 引线之安装表面。6.如申请专利范围第4项之半导 体装置之插座,其中该引 线端点支持表面具有由导电材料制成之部份用以 支持该外 部引线之安装表面。7.一种半导体装置之插座,用 以将外部电路连接到半导体 装置之外部引线藉以测试该半导体装置,该插座包 含有: 一个本体;和一个可动盖子:其中该本体用以支持 该半导 体装置和包含有一个引线端点支持表面用以支持 该半导体 装置之该外部引线之安装表面,和可动接触端子被 设置成 与该半导体装置之该外部引线互相对立;该可动盖 子被设 在该本体形成可垂直移动之方法,以便当该可动盖 子移动 成与该本体组合时用以安装该半导体装置,和当该 可动盖 子移动成与该本体分开时用以使该可动接触端子 分别推压 该半导体装置之该外部引线之安装表面之前侧;和 该本体 之该引线端点支持表面具有弹性之可动突出构件 和被设在 对应到该外部引线之该安装表面之部位,以便当被 该可动 接触端子推压时,从该引线端点支持表面突出和被 推下到 位于该引线端点支持表面位准或其下之位置。8. 一种半导体装置之插座,用以将外部电路连接到半 导体 装置之外部引线藉以测试该半导体装置,该插座包 含有: 一个本体;和一个可动盖子;其中该本体包含有一 个IC支 持表面用以支持该半导体装置,和一些可动接触端 子被设 置成与该半导体装置之该外部引线互相对立;该可 动盖子 被设在该本体形成可垂直移动之方式,以便当该可 动盖子 移动成与该本体组合时用以安装该半导体装置,和 当该可 动盖子移动成与该本体分开时用以使该可动接触 端子推压 该半该体装置之该外部引线之安装表面之前侧;和 该本体 之该IC支持表面具有突出之定位引导器用以对该 半导体装 置进行定位藉以接触在其封装部位之两侧。9.一 种半导体装置之插座,用以将外部电路连到半导体 装 置之外部引线藉以在各种大气温度测试该半导体 装置,该 插座包含有:一个本体支持安装表面位于该半导体 装置之 该外部引线之端点,和具有可动接触端子被设置成 与该半 导体装置之该外部引线互相对立;其中该可动接触 端子之 每一个由形状记忆合金来制成用以记忆形状,其状 态是该 接触端子推压该外部引线,和转回到在测试温度记 忆之形
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