| 发明名称 | 光学测量线卷的卷表面的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种光学测量线卷的卷表面的方法。在这个方法中，在每一个预先给定的测量时间点上，光束射向线卷的探测点；获得探测点的坐标；一部分由探测点反射的发散光束被聚焦并射向面传感器，光束在入射点接触面传感器；用面传感器测量面传感器上入射点的实际位置；探测点坐标从属于为确定入射点的几何理论位置的入射点；获取入射点的实际位置和理论位置之间的坐标差；并得到探测点的高度位置。$#! | ||
| 申请公布号 | CN1061440C | 申请公布日期 | 2001.01.31 |
| 申请号 | CN95109919.1 | 申请日期 | 1995.07.10 |
| 申请人 | 巴马格股份有限公司 | 发明人 | 杰拉尔德·伯杰;乔治·奥拉彼 |
| 分类号 | G01N21/00 | 主分类号 | G01N21/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 孙征 |
| 主权项 | 1．一种光学测量线卷的卷表面的方法，其中，用光束探测卷表面并对反射的光信号进行处理，光束在预先确定探测带上对卷表面进行探测，其特征在于，在每一个预先给定的测量时间点上，光束射向线卷的探测点；获得探测点的坐标；一部分由探测点反射的发散光束被聚焦并射向面传感器，光束在入射点接触面传感器；用面传感器测量面传感器上入射点的实际位置；探测点坐标归入为确定入射点的几何理论位置的入射点；获取入射点的实际位置和理论位置之间的坐标差；由坐标差得到探测点的高度位置。 | ||
| 地址 | 联邦德国雷姆沙伊德 | ||