发明名称 |
等离子体加工方法和等离子体加工装置 |
摘要 |
提供了一种等离子体加工方法和一种等离子体加工装置,在此方法和装置中用施加范围在20到450兆赫的高频电力,同时把范围在30到300V或-30到-300V的直流电压和/或范围在30到600V的交流电压施加到被抽空的反应室中的基底上的方法,在也用作一个电极的基底上制作沉积薄膜。这一方法使得把等离子体和薄膜厚度的分布变均匀成为实际可能的,而与放电频率和所施加的高频电力无关,从而加宽了加工(比如薄膜制作)条件允许的范围和装置设计的允许范围。 |
申请公布号 |
CN1057349C |
申请公布日期 |
2000.10.11 |
申请号 |
CN95120912.4 |
申请日期 |
1995.12.15 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
植田重教;桥爪淳一郎;土田伸史 |
分类号 |
C23C16/50;C23C14/34;H01J37/36 |
主分类号 |
C23C16/50 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
郑修哲 |
主权项 |
1.一种用于形成沉积薄膜的等离子体加工方法,它包括把一块被加工的基底用作第一电极,并包括与所述的基底相对着的设在连接到一个抽空装置和一个源气体供应装置上的一个室中的第二电极,把频率范围为20到450兆赫的高频电力加上在第一电极与第二电极之间产生等离子体放电,从而把引入该室中的源气体分解,使基底受到等离子体加工,其中把一个100-300V或-300--100V的直流电压和/或一个30V-600V的交流电压施加到第一电极上。 |
地址 |
日本东京都 |